Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.Der InhaltHalbleiterdiodenBipolartransistorenSperrschicht-FeldeffekttransistorenMOS-FeldeffekttransisotorenLeistungs-MOS-FeldeffekttransistorOperationsverstärkerOptokopplerNTC- und PTC-SensorenRGB-FarbsensorPiezoelektrische SummerUltraschallwandlerGassensorenIonensensitiver FeldeffekttransistorDie ZielgruppenStudierende der Studiengänge Elektrotechnik sowie Technische und Angewandte Physik an Fachhochschulen und Technischen UniversitätenIngenieure und Physiker in der PraxisDer AutorProf. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann arbeitete als Hochschullehrer für Elektronik an den Hochschulen in Mittweida und Zwickau und war als Lehrbeauftragter für Sensorschaltungen an der Hochschule Bremen tätig.