Zuverlässige Bauelemente für elektronische Systeme

Speicher, Mikroprozessoren, Opto-, MEMS- und NEMS-Bauteile zusammen mit den passiven Komponenten sind das Hauptthema des Buches. Praktische Methoden zur Untersuchung der Zuverlässigkeit sind ergänzt durch umfangreiche Tabellen und veranschaulicht durch zahlreiche Diagramme. Damit erhält der Leser präzise, praxisnah und umfassend sämtliche Zuverlässigkeitsaspekte einfacher und komplexer elektronischer Bauelemente - von der Fehlerphysik über die Prüffeldpraxis und Ausfallmechanismen bis zur Qualitätsüberwachung.

Der Inhalt
Zuverlässigkeit einbauen - Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit - Memristor, der Speicherwiderstand - Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen - Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente - Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen - Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen - Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren - Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten - Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen – Ausfallanalyse

Die Zielgruppen
Ingenieure, Informatiker und Physiker in der PraxisStudierende der Elektrotechnik an Fachschulen, Fachhochschulen, höheren technischen Lehranstalten und technischen Universitäten

Der Autor
Titu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache.